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J-GLOBAL ID：200903089987964924

副伝導路検出装置および副伝導路検出方法

Inventor： 大内 輝彦 ,  片山 國正
Applicant, Patent owner： テルモ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993319705
Publication number (International publication number)：1995171118
Application date： Dec. 20, 1993
Publication date： Jul. 11, 1995
Summary：

【要約】【構成】 第1電極リードおよび第2電極リードからの活動電位信号を計測し、得られた複数の活動電位をポテンシャルマップとしてCRT46およびまたはプリンターに一覧表示できるように出力し、該表示から得られた早期興奮部位に前記焼灼用カテーテルを挿入し、前記第1電極リードまたは前記第2電極リードの電極と該焼灼用カテーテルの有する電極とのインピーダンスをインピーダンス測定回路52により計測し、インピーダンスが最低となる点を副伝導路部位として、前記焼灼用カテーテルを固定する副伝導路検出装置。【効果】 副伝導路部位を検出し、該部位に焼灼用カテーテルを固定し、焼灼することが容易となる。

Claim (excerpt)：

被検体の副伝導路を検出し、焼灼するための装置において、前記被検体の第1検出部位に挿入し該部位における複数の活動電位を計測するための第1電極リードと、前記被検体の第2検出部位に挿入し該部位における複数の活動電位を計測するための第2電極リードとを備え、前記第1電極リードおよび前記第2電極リードからの活動電位信号を多点同時計測し、得られた活動電位を同時に一覧表示できるように出力することを特徴とする副伝導路検出装置。

IPC (2)：

A61B 5/0428 ,  A61B 5/0452

FI (2)：

A61B 5/04 310 B ,  A61B 5/04 312 A