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J-GLOBAL ID：200903090002892213

X線を用いた非破壊検査方法

Inventor：
服部 満

About 服部 満

, 
加藤 久佳

About 加藤 久佳


Applicant, Patent owner：
日本碍子株式会社

About 日本碍子株式会社


Agent (1)： 杉村 暁秀 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000011334
Publication number (International publication number)：2001201465
Application date： Jan. 20, 2000
Publication date： Jul. 27, 2001
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】X線透過法により高い精度で内部欠陥等を検査できる方法、および、X線断層法をセラミックスや金属に応用することでったセラミックスや金属の断層面における内部欠陥等を検査できる非破壊検査方法を提供する。【解決手段】試料2にX線を照射し、試料内部のX線吸収係数の違いに基づくデジタル画像データとしてX線透過像を求め、求めたX線透過像のデジタル画像データを画像処理することで、試料の内部を非破壊で検査する。また、試料2に異なる方向からX線を照射し、各方向から得られた画像データを再構成することによってデジタル画像データからなる断層像を求め、求めた断層像のデジタル画像データを画像処理することで、試料の内部を非破壊で検査する。
Claim (excerpt)：
X線透過法により試料の内部を非破壊で検査するX線を用いた非破壊検査方法であって、試料にX線を照射し、試料内部のX線吸収係数の違いに基づくデジタル画像データとしてX線透過像を求め、求めたX線透過像のデジタル画像データを画像処理することで、試料の内部を非破壊で検査することを特徴とするX線を用いた非破壊検査方法。
IPC (3)：
G01N 23/18 ,  F01N 3/20 ,  G01N 23/04
FI (3)：
G01N 23/18 ,  F01N 3/20 C ,  G01N 23/04
F-Term (20)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA14 ,  2G001JA08 ,  2G001JA13 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA06 ,  2G001MA10 ,  2G001PA12 ,  3G091AA02 ,  3G091AB01 ,  3G091BA31 ,  3G091GA06 ,  3G091GB01X ,  3G091GB10X ,  3G091GB17X
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 特開昭63-238541
  • X線CT装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-044504   Applicant：新日本製鐵株式会社, 高エネルギー物理学研究所長
  • 密度分布測定装置及び方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-031536   Applicant：大建工業株式会社, 浜松ホトニクス株式会社, センサ・システム株式会社
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