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J-GLOBAL ID：200903090033392650
試験用プローブ
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 次男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992131815
Publication number (International publication number)：1993149972
Application date： Apr. 24, 1992
Publication date： Jun. 15, 1993
Summary：
【要約】【目的】広帯域にわたって周波数応答が平坦な、高インピーダンスの受動試験用プローブを提供する。【構成】本発明の一実施例の試験用プローブによれば、標準的で非損失の同軸ケーブル130 が使用され、プローブ先端102 は浮遊キャパシタンスが最小となるよう設計される。フロント・エンド抵抗Rtは従来のRC先端回路網240 と直接に接続される。先端抵抗Rtは、第1に、最小プローブ入力インピーダンスを確立し、第2に、ケーブルの特性インピーダンスと混合するとき、約80%の高周波減衰を提供する。本発明に従ってケーブル長を選択した場合、交差ディップ及びその他の伝送線路信号歪効果が最小化される。
Claim (excerpt)：
被試験回路に接続可能なプローブ先端と、該プローブ先端の出力に接続された抵抗手段と、該抵抗手段の出力に接続された、抵抗とキャパシタとの並列回路を有する回路網と、を備えた入力信号受信手段と、前記回路網の出力に接続され、その長さが、交差ディップを最小とするのに必要なプローブ入力インピーダンス及び減衰によって決定される同軸ケーブルと、を備えて成る試験用プローブ。
IPC (2)：
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