Pat
J-GLOBAL ID：200903090069731460
ダブルビーム分光光度計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991267140
Publication number (International publication number)：1993072038
Application date： Sep. 17, 1991
Publication date： Mar. 23, 1993
Summary：
【要約】【目的】 測定時間が短時間で且つ高精度で測定できるダブルビーム分光光度計を提供することを目的とする。【構成】 1光束を同時並行する参照光と試料光の2光束に分割し、上記2光束の光を各別に2つの受光素子で受光し、測定中に上記2光束と上記2受光素子の対応関係を交替させるようにしたダブルビーム分光光度計。
Claim (excerpt)：
1光束を同時並行する参照光と試料光の2光束に分割するビームスプリッターと、上記2光束の光を各別に受光する2つの受光素子と、上記2光束と上記2受光素子の対応関係を交替させる手段を有することを特徴とするダブルビーム分光光度計。
IPC (2)：
Return to Previous Page
