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J-GLOBAL ID：200903090118547106
リタ-デ-ション計測装置、複屈折計測装置および同装置を備えたプラスチックフイルムの製造方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 信一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999071366
Publication number (International publication number)：1999326190
Application date： Mar. 17, 1999
Publication date： Nov. 26, 1999
Summary：
【要約】【課題】 計測範囲広く高速計測可能なリターデーション計測装置、これを利用する複屈折計測装置と該複屈折計測装置を利用するフイルム製造方法の提供。【解決手段】 リターデーション計測装置は、波長の異なる2以上の光を同軸出射する光源部2、その出射光から生成する連続位相差偏光生成部3、連続位相差偏光生成部3の偏光光を計測試料7へ垂直に入射させ透過した光の偏光状態を波長毎に測る偏光計測部4、連続位相差偏光生成部3の偏光光の位相差変化比較信号を波長毎に生成する比較信号生成部5、比較信号生成部5の出力信号と偏光計測部4の出力信号の相対的位相変化を測る位相差検知部6、位相差検知部6の位相差信号から計測試料7のリターデーションを演算する演算部8、その出力部9からなる。複屈折計測装置は該リターデーション計測装置に厚さ計120を組合せ、フイルムの製造方法は該複屈折計測装置を利用する。
Claim (excerpt)：
互いに異なる波長をもつ少なくとも2つの光を略同軸に出射する光源部(2)と、該光源部(2)の出射光を透過させる過程で直交する2方向に偏光成分間の位相差が連続的に変化する偏光光を生成する連続位相差偏光生成部(3)と、該連続位相差偏光生成部(3)で生成した偏光光を計測試料(7)へ略垂直に入射させ、その透過光の偏光状態を前記互いに異なる波長毎に計測する偏光計測部(4)と、前記連続位相差偏光生成部(3)で生成した偏光光の位相差変化の比較信号を前記互いに異なる波長毎に生成する比較信号生成部(5)と、該比較信号生成部(5)の出力信号と前記偏光計測部(4)の出力信号との間の相対的な位相変化を計測する位相差検知部(6)と、該位相差検知部(6)の位相差信号を使って前記計測試料(7)のリターデーション(複屈折×厚さ)を演算するリターデーション演算部(8)と、該リターデーション演算部(8)の演算結果を出力する出力部(9)とからなるリターデーション計測装置。
IPC (2)：
FI (2)：
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