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J-GLOBAL ID：200903090143778872

レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995255957
Publication number (International publication number)：1997101252
Application date： Oct. 03, 1995
Publication date： Apr. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 被測定粒子の凝集体や泡等の誤差要因がレーザ光の光軸を瞬間的に通過しても、短い測定時間で正確な粒度分布測定結果を得ることのできるレーザ回折/散乱式粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 複数回にわたって採取した回折/散乱光の強度分布データのうち、定常的なデータに比して異常と認められるデータを判別手段7によって不採用と判別し、粒度分布への換算に供すべく積算または平均化演算に採用しないことで、回折/散乱光強度分布データに含まれる誤差要因が粒度分布測定結果に影響を及ぼすことを回避する。

Claim (excerpt)：

分散状態の被測定粒子群にレーザ光を照射して得られる回折/散乱光を光センサ群で受光して、その空間強度分布データを刻々と採取するとともに、その複数個の強度分布データの積算結果または平均結果を、演算手段によって被測定粒子群の粒度分布に換算する粒度分布測定装置において、採取された全ての回折/散乱光の強度分布データのなかから、上記換算に供すべく積算または平均化演算に採用するデータと不採用のデータとを判別する判別手段を有し、その判別手段は、採取された強度分布データ、または、その個々の強度分布データを用いて換算した粒度分布データのなかから、他に比してあらかじめ設定された限度を越えて大径の粒子の存在を表す情報が含まれているデータを、不採用と判別するように構成されていることを特徴とするレーザ回折/散乱式粒度分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭63-259435
  
• 特開昭60-227154
  

Cited by examiner (1)

• 特開昭63-259435