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J-GLOBAL ID：200903090165999996
パッケージの汚れ検出方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
絹谷 信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993178940
Publication number (International publication number)：1995035695
Application date： Jul. 20, 1993
Publication date： Feb. 07, 1995
Summary：
【要約】【目的】 汚れを明確に検出することができ、さらには肉眼等では検出できない微細な或いは稀薄な汚れをも検出できるパッケージの汚れ検出方法を提供する。【構成】 糸からの反射光強度と油等の汚れからの反射光強度とに差異を生じる光をパッケージ1に照射すると共にその反射光を検知し、検知された反射光の強度変化から汚れを検出する。
Claim (excerpt)：
糸からの反射光強度と油等の汚れからの反射光強度とに差異を生じる光をパッケージに照射すると共にその反射光を検知し、検知された反射光の強度変化から汚れを検出することを特徴とするパッケージの汚れ検出方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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