蛍光寿命測定装置及び測定方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000294820
Publication number (International publication number)：2002107300
Application date： Sep. 27, 2000
Publication date： Apr. 10, 2002
Summary：

【要約】【課題】蛍光寿命を高精度に測定できるとともに、測定効率を向上できる蛍光寿命測定装置及びその測定方法を提供する。【解決手段】試料5からの蛍光光子を検出した検出器8から出力されるパルス波形は、増幅された後、積分回路11により積分される。この積分値に基づいて波形整形増幅器12により得られた波高値に基づき、波高弁別器13によって所定の個数の蛍光光子が検出されたことが検知される。所定個数の蛍光光子が検出されると、ピークホールド回路10に保持されていたピーク電圧値がAD変換器14へと出力され、デジタル値に変換されたる。このデジタル値がメモリ回路15へと出力され、メモリ回路15においてピーク電圧値の分布が取得される。このピーク電圧値の分布に基づいて演算回路16において蛍光寿命が求められる。

Claim (excerpt)：

パルス励起光を試料に照射し、試料から放出される蛍光の寿命を測定する蛍光寿命測定装置であって、前記試料に対して前記パルス励起光を照射する光源と、前記パルス励起光が照射された前記試料から放出される蛍光光子を検出し、その検出に応じた出力パルス波形を出力する検出器と、前記パルス励起光の照射1回毎に、前記検出器から出力される出力パルス波形を積分して、その積分値を出力する積分手段と、前記積分手段から出力される積分値に基づいて、前記パルス励起光の照射1回当たりに放出される蛍光光子の個数が所定の個数であるか否かを検知し、放出された蛍光光子の個数が所定の個数であったときに検知信号を出力する個数検知手段と、前記検出器から出力される出力パルス波形のピーク電圧値を取得して、前記個数検知手段から出力された前記検知信号を受け取ったときの前記出力パルス波形のピーク電圧値に基づいて前記ピーク電圧値の分布を取得する取得手段と、前記取得手段により取得されたピーク電圧値の分布に基づいて蛍光寿命を算出する演算手段と、を備えることを特徴とする蛍光寿命測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/64 , G01J 1/42

FI (2)：

G01N 21/64 B , G01J 1/42 H

F-Term (22)：

2G043AA06 , 2G043EA01 , 2G043FA03 , 2G043GA08 , 2G043GB21 , 2G043HA01 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2G043LA01 , 2G043NA01 , 2G043NA06 , 2G065AB04 , 2G065AB14 , 2G065BA09 , 2G065BA17 , 2G065BC08 , 2G065BC13 , 2G065BC15 , 2G065BC28 , 2G065BC33 , 2G065BC35 , 2G065DA20

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