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J-GLOBAL ID：200903090263387230

熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法および健全性診断システム

Inventor： 牧村 俊助 ,  下村 浩一郎
Applicant, Patent owner： 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構
Agent (5)： 杉村 興作 ,  徳永 博 ,  藤谷 史朗 ,  来間 清志 ,  冨田 和幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005195079
Publication number (International publication number)：2007010619
Application date： Jul. 04, 2005
Publication date： Jan. 18, 2007
Summary：

【課題】熱衝撃を受ける機器の稼動中に、安価かつ安全にその機器の健全性を診断することにある。【解決手段】熱衝撃を受ける機器1の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置に圧力波検知素子5A〜5Dをそれぞれ固着し、前記機器の稼動によってその機器に熱衝撃を与えるとともに、前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号を信号計測装置でそれぞれ計測し、前記熱衝撃による応力波に対応する出力信号を前記圧力波検知素子が出力しなかった位置がある場合に、前記機器のその圧力波検知素子を固着した位置と前記熱衝撃を与えた位置との間に亀裂があって前記機器の健全性が損なわれていると判断することを特徴とする、熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法である。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

熱衝撃を受ける機器の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置に圧力波検知素子をそれぞれ固着し、 前記機器の稼動によってその機器に熱衝撃を与えるとともに、前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号を信号計測装置でそれぞれ計測し、 前記熱衝撃による応力波に対応する出力信号を前記圧力波検知素子が出力しなかった位置がある場合に、前記機器のその圧力波検知素子を固着した位置と前記熱衝撃を与えた位置との間に亀裂があって前記機器の健全性が損なわれていると判断することを特徴とする、熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

IPC (3)：

G01N 3/60 ,  G01N 29/00 ,  G01N 29/04

FI (3)：

G01N3/60 C ,  G01N29/00 501 ,  G01N29/08

F-Term (15)：

2G047AA09 ,  2G047AB04 ,  2G047AC01 ,  2G047BA04 ,  2G047BC07 ,  2G047BC11 ,  2G047CA01 ,  2G047CA04 ,  2G047CA07 ,  2G047EA08 ,  2G047EA16 ,  2G047EA19 ,  2G047GA14 ,  2G047GG28 ,  2G047GG47