Pat
J-GLOBAL ID:200903090365697358

画像処理検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西川 惠清 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997260686
Publication number (International publication number):1999101753
Application date: Sep. 25, 1997
Publication date: Apr. 13, 1999
Summary:
【要約】【課題】操作者の熟練度による検査結果のばらつきを防止し検査時間を短くすることができるように検査領域を設定する画像処理検査装置を提供する。【解決手段】検査対象物の良品と不良品とを画像入力装置1により撮像し、比較器3で両者の2値画像を生成して画像メモリ4に格納する。CPU5では両2値画像の差である差画像として得られた領域を検査領域として設定し、メモリ8に格納する。
Claim (excerpt):
検査対象物を撮像する画像入力装置と、画像入力装置で撮像された画像を2値化する2値化部と、2値画像内で設定した検査領域内で良否判定を行なう演算処理部とを備え、演算処理部は、検査対象物の良品と不良品との2値画像の差である差画像として得られた領域を検査領域として設定することを特徴とする画像処理検査装置。
IPC (2):
G01N 21/88 ,  G01B 11/24
FI (2):
G01N 21/88 J ,  G01B 11/24 K

Return to Previous Page