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J-GLOBAL ID：200903090380931596

プリント回路板テスタ

Inventor： シェーン,ティモシー・ダブリュー ,  チェン,ジアン-ネン ,  コーエン,スティーブン・エイ ,  バグリノ,マイケル・エイ ,  リン,ジョゼフ・エフ
Applicant, Patent owner： テラダイン・インコーポレーテッド
Agent (1)： 湯浅 恭三 (外6名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1995509384
Publication number (International publication number)：1997502804
Application date： Sep. 16, 1994
Publication date： Mar. 18, 1997
Summary：

【要約】プリント回路板とその上に設置された素子との間の接続を試験する装置及び方法が開示される。集積回路(IC)のリード線とそのICの接地面との間に内在的に存在する寄生ダイオードを順方向にバイアスすることによって、導電性のループが形成される。試験される素子の上に設置されるアンテナによって磁界が生じる。アンテナがRF源によって付勢されると、導電性ループが連続すなわちすべての接続が適切になされている場合には、このループにおいて電圧が誘導される。ループにおける電圧は、測定され、選択されたスレショルドと比較されて、合格/失格の指示が生じる。このテスタは、標準的のネイル・ベッド型のプリント回路板テスタに対する改良として実現し得る。アンテナは、隣接するアンテナが相互に90度の位相がずれた磁界を生じるようなスパイラル・ループ・アンテナのアレーとして実現できる。

Claim (excerpt)：

密なプリント回路板の故障を試験する装置であって、 プリント回路板上の導電性トレースと電気的に接触する複数の導電性部材を有する固定装置と、 前記固定装置の近くに位置する放射アンテナと、 前記導電性部材の1つに接続された第1のバイアス源と、 前記放射アンテナが生じる磁界によって前記プリント回路板上の前記導電性トレースにおいて誘導された信号を測定する測定手段と、 を備えている装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開昭62-257070