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J-GLOBAL ID：200903090414133520

走査型プローブ顕微鏡用探針

Inventor： 水島 公一 ,  黒田 達明
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 波多野 久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992245075
Publication number (International publication number)：1994094813
Application date： Sep. 14, 1992
Publication date： Apr. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】スピン磁気能率の向きを特定方向に規定でき、装置価格、装置設計に負担をかけず、また測定試料にも影響を与えない強磁性体からなる走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。【構成】走査型プローブ顕微鏡に設けられる探針であって、強磁性体で構成される。先端部が導電性強磁性体1と絶縁性反強磁性体2との積層構造を有する。また、フェルミ面近傍の電子状態が主としてdバンドから構成されるようにする。

Claim (excerpt)：

走査型プローブ顕微鏡に設けられる探針であって、強磁性体で構成されるものにおいて、先端部が導電性強磁性体と絶縁性反強磁性体との積層構造を有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡用探針。

IPC (4)：

G01R 33/02 ,  G01B 21/30 ,  G01R 33/10 ,  G01R 33/12