Pat

J-GLOBAL ID：200903090418906469

測距装置

Inventor： 井出 昌孝
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000216189
Publication number (International publication number)：2002031526
Application date： Jul. 17, 2000
Publication date： Jan. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】本発明は、低コスト化及び小型化が可能で、かつ高性能な測距を行うことが可能な測距装置を提供する。【解決手段】本発明の一態様によると、測距用光を投光する投光手段と、上記測距用光を複数方向に分割投光するための光分割手段と、上記光分割手段を介して分割投光された上記測距用光の測距対象からの反射光を受光する受光手段と、上記受光手段の出力に基づいて上記測距対象の距離を検出する検出手段とを具備する測距装置において、上記光分割手段は、電気的に制御可能な複数に分割された回折または反射光学素子であることを特徴とする測距装置が提供される。

Claim (excerpt)：

測距用光を投光する投光手段と、上記測距用光を複数方向に分割投光するための光分割手段と、上記光分割手段を介して分割投光された上記測距用光の測距対象からの反射光を受光する受光手段と、上記受光手段の出力に基づいて上記測距対象の距離を検出する検出手段と、を具備する測距装置において、上記光分割手段は、電気的に制御可能な複数に分割された回折または反射光学素子であることを特徴とする測距装置。

IPC (5)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G02B 7/32 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36

FI (5)：

G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B ,  G02B 7/11 B ,  G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A

F-Term (39)：

2F065AA02 ,  2F065AA06 ,  2F065BB29 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF24 ,  2F065GG07 ,  2F065GG12 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL19 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ34 ,  2F112AA05 ,  2F112BA06 ,  2F112BA07 ,  2F112CA02 ,  2F112CA12 ,  2F112DA02 ,  2F112DA09 ,  2F112DA11 ,  2F112DA26 ,  2F112FA03 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  2H011AA01 ,  2H011BA14 ,  2H011BB01 ,  2H011DA08 ,  2H051BA20 ,  2H051BB20 ,  2H051CC07 ,  2H051CC13 ,  2H051DA07 ,  2H051GB01