Pat

J-GLOBAL ID：200903090536417065

均一性検査装置

Inventor： 太田 香織里
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993086081
Publication number (International publication number)：1994300998
Application date： Apr. 13, 1993
Publication date： Oct. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】本発明は、画面の均一性に対する検査を、その判定基準を明確化しかつ定量的に行う。【構成】撮像装置(3) の撮像により得られた画像データを画像分割部(13)により複数の画像に分割する。次にこれら分割画像データに対して最大値保持処理部(14)により各輝度を求めて最も明るい部分を強調保持処理し、これと共に中間値処理部(15)により各分割画像データに対して各中間値処理を行う。そして、これら最大値保持処理部(14)の各画像データと中間値処理部(15)の各画像データとがそれぞれ比較されて各分割画像の均一性が検査される。

Claim (excerpt)：

被検査対象を撮像する撮像装置と、この撮像装置の撮像により得られる画像データを複数の画像データに分割する画像分割手段と、この画像分割手段により得られた各分割画像データに対して、各領域内輝度を求めて最も明るい部分を強調処理する最大値保持処理手段と、前記各分割画像データに対して各中間値処理を行う中間値処理手段と、前記最大値保持処理手段により得られる各画像データと前記中間値処理手段により得られる各画像データとを比較して前記各分割画像の均一性を検査する均一性検査手段とを具備したことを特徴とする均一性検査装置。

IPC (3)：

G02F 1/13 101 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/88