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J-GLOBAL ID：200903090566380921
MS/MS質量分析装置用データ処理装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994282814
Publication number (International publication number)：1996124519
Application date： Oct. 21, 1994
Publication date： May. 17, 1996
Summary：
【要約】【目的】 親イオンの同定を容易にする。【構成】 質量スペクトルの各ピークについて、ピークデータベースを参照してピーク質量mdに対応するイオン種の候補を抽出し(ステップS5)、脱離基データベースを参照して脱離質量mr(=親イオン質量mp-md)に対応する脱離基の候補を抽出する(S6)。各種娘イオン及び脱離基から親イオンを構築する際の規則を格納した構造構築規則データベースを参照して、親イオンの候補を決定する(S7)。
Claim (excerpt)：
第1質量フィルタ部で親イオンを選択し、開裂部でその親イオンを開裂し、開裂により生成した娘イオンの質量スペクトルを第2質量フィルタ部で採取するMS/MS質量分析装置用のデータ処理装置であって、a)各種質量のそれぞれに対応するイオン種の情報を格納したピークデータベースと、b)開裂により脱離する可能性のある脱離基の質量と脱離基種の情報を格納した脱離基データベースと、c)上記採取された質量スペクトルからピークを検出し、各ピークについてピーク質量と親イオンの質量とからそのピーク質量を減算した脱離質量を求めるピーク検出手段と、d)各ピークについて、ピークデータベースを参照することによりそのピーク質量に対応するイオン種の候補を抽出するとともに、脱離基データベースを参照することによりその脱離質量に対応する脱離基の候補を抽出するピーク解析手段と、e)各種娘イオンと脱離基とから親イオンを構築する際の規則を格納した構造構築規則データベースと、f)構造構築規則データベースを参照することにより、親イオンの質量、ピーク解析手段による解析結果及び各ピークの高さに基づいて親イオンの候補を決定する親イオン推定手段と、を備えることを特徴とするMS/MS質量分析装置用データ処理装置。
IPC (2)：
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