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J-GLOBAL ID：200903090643504213

過渡吸収測定装置

Inventor：
山中 健一

About 山中 健一


Applicant, Patent owner：
株式会社豊田中央研究所

About 株式会社豊田中央研究所


Agent (2)： 吉田 研二 ,  石田 純
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006029217
Publication number (International publication number)：2007212145
Application date： Feb. 07, 2006
Publication date： Aug. 23, 2007
Summary：
【課題】紫外領域から近赤外領域まで幅広い領域において、高い測定精度かつ高い時間分解能で過渡吸収測定が可能である過渡吸収測定装置を提供する。【解決手段】物質の過渡吸収を測定する過渡吸収測定装置において、プローブ光源として定常光を、光検出手段としてアバランシェフォトダイオードを使用することにより、紫外領域から近赤外領域まで幅広い領域において高い測定精度かつ高い時間分解能で過渡吸収測定が可能である。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
物質の過渡吸収を測定する過渡吸収測定装置であって、 物質を励起する励起光を発する励起光源と、 前記励起光により励起された物質を含む試料に向けて定常光であるプローブ光を発するプローブ光源と、 前記試料を透過した透過プローブ光を分光し出力光として出力する分光手段と、 前記出力光を検出する光検出手段と、 を有し、 前記光検出手段はアバランシェフォトダイオードを有することを特徴とする過渡吸収測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/27
FI (1)：
G01N21/27 Z
F-Term (18)：
2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059DD03 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (20)
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