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J-GLOBAL ID：200903090664685145

超音波位置測定方法

Inventor： 石崎 武志
Applicant, Patent owner： 石川島検査計測株式会社
Agent (1)： 奈良 繁
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992067703
Publication number (International publication number)：1993272956
Application date： Mar. 26, 1992
Publication date： Oct. 22, 1993
Summary：

【要約】【目的】 ゆらぎや外乱の影響を少なくする。【構成】 超音波測定装置2,3間の距離データとしては、移動用超音波測定装置4の位置を計測する初期の段階の測定データを、それ以降の移動用超音波測定装置の位置を算出するデータとして使用する。

Claim (excerpt)：

複数の超音波位置測定ユニットを平面上の所定位置に配置して各超音波位置測定ユニット間の距離を計測し、移動用超音波位置測定ユニットを配置し、前記超音波位置測定ユニット内の2つの超音波位置測定ユニットと前記移動用超音波位置測定ユニットとの距離からこの移動用超音波位置測定ユニットの位置を計測する超音波位置測定方法において、前記超音波位置測定ユニット間の距離データは初期の計測時の値を用い、前記移動用超音波位置測定ユニットを移動する度に計測するデータは、この移動用超音波位置測定ユニットと前記2つの超音波位置測定ユニットとの距離の計測データのみとしてこの移動用超音波位置測定ユニットの位置を計測するようにしたことを特徴とする超音波位置測定方法。

IPC (2)：

G01B 17/00 ,  G01S 15/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭49-069349
  
• 特開昭54-136369
  
• 特開平1-263514