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J-GLOBAL ID:200903090696840541

応力異方性検出方法および応力診断方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小谷 悦司 ,  植木 久一 ,  樋口 次郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003086120
Publication number (International publication number):2004294232
Application date: Mar. 26, 2003
Publication date: Oct. 21, 2004
Summary:
【課題】被測定物に作用する応力の診断を正確に行う。【解決手段】表面SH波により被測定物と同質材料からなり、かつ無応力状態の厚さの異なる複数種類の供試体の表面異方性と求めるとともに、複屈折音弾性法により各供試体の組織異方性を求め、これら組織異方性と表面異方性との相関関係を求める工程(S1〜S3)と、表面SH波法により被測定物の表面異方性を求める工程(S4)と、その値に基づいて前記相関関係から被測定物の組織異方性を求める工程(S5)と、複屈折音弾性法により被測定物の音響異方性を求める工程(S6)と、この工程で求められた音響異方性の値からステップS5で求められる組織異方性の値を減算することにより被測定物の応力異方性を求める工程(S7)とを有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
測定対象物の厚さ方向に横波超音波を伝搬させて測定対象物の音響異方性を求める複屈折音弾性法、および測定対象物の表面に沿って表面SH波を伝搬させて測定対象物の音響異方性を求める表面SH波法を、被測定物と同質材料からなり、かつ無応力状態の厚さの異なる複数種類の試料に対しそれぞれ実施することにより各試料の組織に依存する組織異方性、および表面異方性を求めるとともにこれら組織異方性と表面異方性との相関関係を求める相関検知工程と、 前記表面SH波法により被測定物の表面異方性を求める工程と、 この工程で求められた被測定物の表面異方性に基づいて前記相関検知工程で求められた相関関係から被測定物の組織異方性を求める工程と、 前記複屈折音弾性法により被測定物の音響異方性を求める工程と、 この工程で求められた音響異方性から前記相関関係に基づいて求められる組織異方性を減算することにより、被測定物の応力に依存する音響異方性である応力異方性を求める工程とを有する ことを特徴とする応力異方性検出方法。
IPC (2):
G01L1/00 ,  G01N29/18
FI (2):
G01L1/00 C ,  G01N29/18
F-Term (11):
2G047AA07 ,  2G047BB01 ,  2G047BB02 ,  2G047BC02 ,  2G047BC11 ,  2G047CB02 ,  2G047CB03 ,  2G047EA08 ,  2G047EA10 ,  2G047GG31 ,  2G047GG36
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
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