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J-GLOBAL ID：200903090759632685

超音波診断装置

Inventor： 伊 藤 嘉 彦 ,  福 喜 多 博 ,  萩 原 尚 ,  西 垣 森 雄
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 蔵合 正博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994018541
Publication number (International publication number)：1995222744
Application date： Feb. 15, 1994
Publication date： Aug. 22, 1995
Summary：

【要約】【目的】 特別な角度センサや位置センサを用いずに断層面の相互位置関係の検出や三次元表示を行なうことができるようにする。【構成】 互いに断層面が交差するように配置された超音波探触子14、15を用い、超音波探触子15による時間的に異なる断層情報を相関演算器25により処理し、変位演算回路26により超音波探触子14の空間的位置を確認することで、超音波探触子14による断層面間の相互位置関係を高精度に検出することができる。また、輪郭抽出回路22、三次元DSC23を利用することでモニタ24上に被検体のエコー情報を三次元画像として表示できる。

Claim (excerpt)：

互いに断層面が交差する少なくとも二断層面を有する超音波探触子と、一方の断層面から得られた情報をもとに他方の断層面の空間的移動を検出する手段を有する超音波診断装置。

IPC (2)：

A61B 8/00 ,  G01N 29/06