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J-GLOBAL ID：200903090805305490

放射線測定プログラム及び放射線測定器

Inventor： 渡辺 広綱 ,  佐藤 典仁 ,  斎藤 数弘
Applicant, Patent owner： 東電工業株式会社 ,  株式会社千代田テクノル ,  有限会社 エスディー技研
Agent (1)： 加藤 朝道
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001391255
Publication number (International publication number)：2003194953
Application date： Dec. 25, 2001
Publication date： Jul. 09, 2003
Summary：

【要約】【課題】高エネルギから低エネルギまでの放射線を容易に測定するための放射線測定プログラム及び放射線測定器を提供すること。【解決手段】検出された放射線に対応する放射線の計数値を複数の放射線エネルギ領域に分割して求めるステップ(b)と、ある放射線エネルギ領域の計数値及び当該放射線エネルギ領域よりも高位の前記放射線エネルギ領域の計数値を用いて、当該放射線エネルギ領域の線量を求めるステップ(102)と、を含む処理が実行される。

Claim (excerpt)：

検出された放射線の線量を求めるための放射線測定プログラムであって、検出された放射線に対応する放射線の計数値を複数の放射線エネルギ領域に分割して求める第1のステップと、前記放射線エネルギ領域の計数値及び当該放射線エネルギ領域よりも高位の前記放射線エネルギ領域の計数値を用いて、当該放射線エネルギ領域の線量を求める第2のステップと、を含む処理を情報処理装置に実行させることを特徴とする放射線測定プログラム。

F-Term (4)：

2G088FF17 ,  2G088GG01 ,  2G088GG21 ,  2G088LL05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭50-131582
  
• 特開平3-211486
  
• 特開平3-111790
  
• 特開平3-128479