顕微鏡システム

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：古谷史旺 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998029933
Publication number (International publication number)：1999231228
Application date： Feb. 12, 1998
Publication date： Aug. 27, 1999
Summary：

【要約】【課題】本発明は、標本を載置するステージの移動を、遠隔で制御可能な顕微鏡システムに関し、焦点ずれを起こすことなく標本の観察を行うことを目的とする。【解決手段】標本を載置するステージの水平移動を制御する水平移動制御手段と、ステージの上下移動を制御する上下移動制御手段とを有する顕微鏡システムにおいて、標本の任意の位置における水平座標および焦点位置である高さ座標からなる三次元座標を読み込む座標読込手段と、少なくとも3箇所以上の三次元座標を記憶する記憶手段と、各三次元座標のうち複数の各水平座標と、標本の観察位置の水平座標とから、観察位置の高さ座標を算出する高さ座標算出手段と、水平座標へのステージの移動を、水平移動制御手段に指示する水平移動指示手段と、高さ座標へのステージの移動を、上下移動制御手段に指示する上下移動指示手段とを有することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

標本を載置するステージの水平移動を制御する水平移動制御手段と、前記ステージの上下移動を制御する上下移動制御手段と、を有する顕微鏡システムにおいて、前記ステージ上に載置される標本の任意の位置における水平座標(X,Y)および焦点位置である高さ座標Zからなる三次元座標(X,Y,Z)を読み込む座標読込手段と、前記座標読込手段により読み込まれる前記標本の少なくとも3箇所以上の三次元座標(Xn,Yn,Zn);(n=1,2,...)を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶される前記各三次元座標(Xn,Yn,Zn)のうち複数の前記各水平座標(Xn,Yn)と、前記標本の観察位置の水平座標(Xa,Ya)とから、前記観察位置の高さ座標Zaを算出する高さ座標算出手段と、前記水平座標(Xa,Ya)への前記ステージの移動を、前記水平移動制御手段に指示する水平移動指示手段と、前記高さ座標Zaへの前記ステージの移動を、前記上下移動制御手段に指示する上下移動指示手段と、を有することを特徴とする顕微鏡システム。

IPC (3)：

G02B 21/26 , G02B 21/36 , G05D 3/12

FI (3)：

G02B 21/26 , G02B 21/36 , G05D 3/12 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

金属材料中の非金属介在物検査方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-078418 Applicant：ニッテツ北海道制御システム株式会社

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