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J-GLOBAL ID：200903090915081180
眼特性測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
橋爪 健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002280175
Publication number (International publication number)：2004113405
Application date： Sep. 26, 2002
Publication date： Apr. 15, 2004
Summary：
【課題】収差量が多い被検眼の光学特性を精密に測定可能な装置を提供する。【解決手段】光源部11から被検眼網膜上を照明するための第1照明光学系10と、被検眼網膜からの反射光束を複数のビームに変換する長焦点又は高感度の第1変換部材22Aを有する第1受光光学系20Aと、被検眼網膜からの反射光束を複数のビームに変換する短焦点又は低感度の第2変換部材を有する第2受光光学系と、第1受光光学系20A及び第2受光光学系の受光光束を受光する第1受光部21A及び第2受光部と、第1受光光学系20A及び/又は第2受光光学系中に配置され、通過又は反射する光束の収差を補償する補償光学部60とを備える。第1受光部21A及び/又は第2受光部の出力又は前眼部観察部40からの出力に基づいて求められた被検眼の収差を補償光学部60によって補償し、補償された微小な収差を精密に測定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
第1波長の光束を発する第1光源部と、
上記第1光源部からの光束で被検眼網膜上の微小な領域を照明するための第1照明光学系と、
被検眼網膜から反射して戻ってくる反射光束の一部を、少なくとも実質的に17本のビームに変換する長焦点又は高感度のレンズ部を有する第1変換部材を介して受光するための第1受光光学系と、
被検眼網膜から反射して戻ってくる反射光束の一部を、少なくとも実質的に17本のビームに変換する短焦点又は低感度のレンズ部を有する第2変換部材を介して受光するための第2受光光学系と、
上記第1受光光学系の受光光束を受光する第1受光部と、
上記第2受光光学系の受光光束を受光する第2受光部と、
上記第1受光部及び/又は上記第2受光部の出力に基づいて、収差を打ち消すための補償量を求め、出力する補償量演算部と、
上記第1及び/又は上記第2受光光学系中に配置され、上記補償量演算部から出力された補償量に従って、通過又は反射する光束の収差を補償する補償光学部と、
上記補償光学部による補償後の上記第1受光部及び/又は上記第2受光部の出力に基づく光学特性と上記補償光学部で補償した光学特性とを考慮して、被検眼の光学特性を求める測定演算部と
を備えた眼特性測定装置。
IPC (1)：
FI (2)：
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