OTDR装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996248255
Publication number (International publication number)：1997184788
Application date： Sep. 19, 1996
Publication date： Jul. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いOTDR試験を行うことのできるOTDR装置を提供する。【解決手段】本発明のOTDR装置(100a)は、OTDR試験用の検査光を出力する検査光光源(1a)を備えている。この検査光光源は、半導体発光素子(10)と、この半導体発光素子から出射した光が入射する位置に配置され、反射波長幅が約1nm以上の回折格子(35)が所定部位に設けられた光導波路(30)とを有している。

Claim (excerpt)：

OTDR試験用の検査光を出力する検査光光源を備えたOTDR装置であって、前記検査光光源は、光出射面及びこの光出射面と対向する光反射面を有する半導体発光素子と、前記半導体発光素子から出射した光が入射する位置に配置され、屈折率が光軸に沿って周期的に変化している回折格子であって、反射波長幅が約1nm以上のものが所定部位に設けられた光導波路とを備えることを特徴とするOTDR装置。

IPC (3)：

G01M 11/02 , G02B 6/10 , G02B 6/122

FI (3)：

G01M 11/02 J , G02B 6/10 C , G02B 6/12 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

OTDR装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-190053 Applicant：古河電気工業株式会社
イン-ライン屈折率回折格子を有する光導波路を含む製品
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-127140 Applicant：アメリカンテレフォンアンドテレグラフカムパニー
光発生装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-028746 Applicant：松下電器産業株式会社

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