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J-GLOBAL ID：200903090996798776

Ni-MHバッテリの劣化度監視方法及びその装置

Inventor： 木下 直樹
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 佐藤 辰彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993157170
Publication number (International publication number)：1995022073
Application date： Jun. 28, 1993
Publication date： Jan. 24, 1995
Summary：

【要約】【目的】Ni-MHバッテリについて、その劣化度を確実且つ容易に把握することができる劣化度監視方法及びその装置を提供する。【構成】少なくとも充電の初期段階において充電電流値を略一定としてNi-MHバッテリを充電する際に、バッテリの充電開始前の電圧(VI )及び充電開始後の電圧(VN )の差(|VN -VI |)と、充電電流値(IC )と、バッテリ1の温度とを計測する。計測した電圧差と充電電流値との比(|VN -VI |/IC )を求め、さらにその比の値をバッテリの温度に応じて補正する。その補正により得られた値Rによりバッテリの劣化度を把握する。

Claim (excerpt)：

Ni-MHバッテリの劣化度を把握・監視する方法であって、前記バッテリの充電を少なくともその初期段階において充電電流値を略一定として行う工程と、該充電の際に前記バッテリの充電開始前の電圧(VI )と充電開始後の電圧(VN )との差(|VN -VI |)を計測する工程と、該電圧差(|VN -VI |)と前記充電の初期段階において略一定の充電電流値(IC )との比(|VN -VI |/IC またはIC /|VN -VI |)を求める工程とから成り、該比の値により前記バッテリの劣化度を把握・監視することを特徴とするNi-MHバッテリの劣化度監視方法。

IPC (3)：

H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/42

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭63-157078
  
• 特開昭62-240876