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J-GLOBAL ID：200903090997658064

未知物質の構造解析装置

Inventor： 清水 博 ,  斉藤 啓治 ,  塩見 康
Applicant, Patent owner： 株式会社ユービーイー科学分析センター
Agent (1)： 伊丹 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999075356
Publication number (International publication number)：2000266737
Application date： Mar. 19, 1999
Publication date： Sep. 29, 2000
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 容易に精度良く、未知物質の構造解析を行ない構造解析および定量計算の時間を大幅に短縮する構造解析装置を提供する。【解決手段】 未知物質のGC-MS分析データである、RT(保持時間)及びMSスペクトルデータ、及び既知物質のRT及びMSスペクトルデータを記憶する手段、記憶された未知物質のRTと記憶されたすべての既知物質のRTとを比較して許容誤差範囲である既知物質を選出する手段、記憶された未知物質のMSスペクトルと選出された既知物質のMSスペクトルの一致度の評価点を逆検索法により算出する手段、算出された一致度の評価点が閾値以上である場合、未知物質が該既知物質であると決定する手段、記憶された未知物質のMSスペクトルのTIC(トータルイオンクロマトグラム)のピーク面積から定量値を算出する手段、未知物質の解析結果として、決定された既知物質と算出された定量値を出力する手段とを備える。

Claim (excerpt)：

未知物質のGC-MS分析データである、RT(保持時間)及びMSスペクトルデータ、及び既知物質のRT及びMSスペクトルデータを記憶する記憶手段、前記記憶手段に記憶された未知物質のRTと前記記憶手段に記憶されたすべての既知物質のRTとを比較して許容誤差範囲である既知物質を選出する選出手段、前記記憶手段に記憶された未知物質のMSスペクトルと前記選出手段で選出された既知物質のMSスペクトルの一致度の評価点を逆検索法により算出する算出手段、前記算出手段で算出された一致度の評価点が閾値以上である場合に、未知物質が該既知物質であると決定する決定手段、前記記憶手段に記憶された未知物質のMSスペクトルのTIC(トータルイオンクロマトグラム)のピーク面積から定量値を算出する定量手段、未知物質の解析結果として、前記決定手段で決定された既知物質と前記定量手段で算出された定量値を出力する出力手段とを備えてなることを特徴とする未知物質の構造解析装置。

IPC (3)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/86

FI (3)：

G01N 30/72 A ,  G01N 27/62 C ,  G01N 30/86 G