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J-GLOBAL ID:200903091003865569

パターン形成方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993155086
Publication number (International publication number):1995135142
Application date: Jun. 25, 1993
Publication date: May. 23, 1995
Summary:
【要約】【目的】 安定したオフセットゲートもしくは、パターン寸法をアライメントズレなく形成するパターン形成技術を提供する。【構成】 段差基板21上にレジスト23を塗布する工程と、露光光源と基板21との角度が0度から90度の間の角度をもった状態で、基板21に露光光24を照射する工程と、露光された部分を現像する工程とを備えたパターン形成方法である。
Claim (excerpt):
段差基板上にレジストを塗布する工程と、露光光源と基板との角度が0度から90度の間の角度をもった状態で、基板に露光光を照射する工程と、露光された部分を現像する工程とを備えたパターン形成方法。
IPC (3):
H01L 21/027 ,  G03F 7/20 521 ,  C23F 1/00 102
FI (3):
H01L 21/30 502 C ,  H01L 21/30 502 A ,  H01L 21/30 569

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