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J-GLOBAL ID：200903091005433305

光ファイバ歪み計測装置

Inventor： 山浦 剛俊
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999282940
Publication number (International publication number)：2001108416
Application date： Oct. 04, 1999
Publication date： Apr. 20, 2001
Summary：

【要約】【課題】光路の長さが変化するような環境あるいは振動の多い環境においても、歪み計測を確実に行なうことができる光ファイバ歪み計測装置を提供する。【解決手段】光源11からの投射光を計測用FBG14に入射すると、計測用FBG14は回折格子の間隔に応じて特定の波長の光を反射する。この計測用FBG14からの反射光は、光カプラ16を介して光ファイバ17、18の光路に分岐される。光ファイバ17に分岐された反射光は、FBGフィルタ19により反射光の波長の変化に対応した強度に変換され、更に計測用受光素子20により電気信号に変換される。また、光ファイバ18に分岐された信号は、参照用受光素子21で電気信号に変換される。処理装置22は、計測用受光素子20及び参照用受光素子21から送られてくる反射光の強度の比から周波数の変化を求めると共に、この周波数変化から歪み変化量を算出して表示装置23に表示する。

Claim (excerpt)：

計測用の光を投射する光源と、歪み計測部に接着され、前記光源からの投射光に対して歪みに対応した波長の光を反射するファイバブラッグ回折格子と、波長と強度との関係が三角形となる出力特性を有し、前記ファイバブラッグ回折格子からの反射光をその波長に対応した強度に変換して出力するフィルタと、前記フィルタの出力光を電気信号に変換する計測用受光素子と、前記ファイバブラッグ回折格子からの反射光を電気信号に変換する参照用受光素子と、前記計測用受光素子及び参照用受光素子から出力される信号の強度比から前記ファイバブラッグ回折格子の反射光の周波数変化を求める第1の演算手段と、前記第1の演算手段により求めた周波数変化に比例係数を乗じて前記ファイバブラッグ回折格子の歪み変化量を算出する第2の演算手段とを具備したことを特徴とする光ファイバ歪み計測装置。

F-Term (17)：

2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065CC40 ,  2F065DD14 ,  2F065FF48 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ15 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065SS03 ,  2F065SS13