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J-GLOBAL ID:200903091056538691
マルチビーム光学システム及び該システムで用いられるビームパワー測定方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
頓宮 孝一 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992233513
Publication number (International publication number):1993210846
Application date: Sep. 01, 1992
Publication date: Aug. 20, 1993
Summary:
【要約】【目的】 ダイレクトリード/アフタライト光学的データ記憶システム等で用いられる、複数のオーバラップするビームそれぞれのパワーを測定するための簡単で安価な方法及び装置を提供する。【構成】 予め、レーザダイオード20、22の一方をオンにして、反射防止被覆40を介して光検出器100に到達するビーム26、28のパワー、及びカバー16で反射されて光検出器42、44に到達するビームのパワーをそれぞれ検出し、また両ダイオードをオンにして、オーバラップするビームの第1の部分を検出器42で検出し、第2の部分を検出器44で検出し、検出結果を用いてそれぞれのダイオードのビームパワー比を決定する。システムの動作中、これらのパワー比及び検出器42、44からの信号により、個々のダイオードからの各々のレーザパワーを、オーバラップしているレーザを分離することなく、測定することができ、ひいては、レーザパワー制御を容易に行うことができる。
Claim (excerpt):
マルチビーム光学システムにおいて、a)N本(Nは2以上の整数)のオーバラップする放射ビームを発生する放射源と、b)N個の放射検出器と、c)前記N本のビームの異なる部分を前記N個の検出器の各々に向ける方向付け手段と、d)前記検出器に接続されて、前記N本のビームの各々のパワーを表すパワー信号を発生する論理手段とからなることを特徴とするマルチビーム光学システム。
IPC (3):
G11B 7/00
, G11B 7/125
, G11B 7/14
Patent cited by the Patent:
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