Pat
J-GLOBAL ID:200903091130615776

電界効果トランジスタ、及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 早瀬 憲一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993071380
Publication number (International publication number):1994283553
Application date: Mar. 30, 1993
Publication date: Oct. 07, 1994
Summary:
【要約】【目的】 ドレイン端の高電界領域で発生した正孔がソース側に蓄積するのを抑制し、ドレイン耐圧を向上させる。【構成】 電界効果型トランジスタのソース側の高濃度n型層3aのまわりをP型層19で囲み、高濃度P層18を介して接地する。これにより、ドレイン側で発生した正孔がソース側に蓄積することによりソース側の基板内の電界を弱め、一方、その高濃度正孔領域15がドレイン側5にのびることによってドレイン側5での電界を強めてブレークダウンする、ということを抑制する。【効果】 ゲート・ドレイン耐圧より、ドレイン・ソース耐圧が問題となるプレーナ型のFETにおいて、ドレイン・ソース耐圧の向上を図ることができる。
Claim (excerpt):
化合物半導体基板上に形成された第1導電形チャネル層上に金属-半導体接合をゲート電極として有する電界効果トランジスタにおいて、ソース領域を形成する高濃度第1導電形不純物層と、該ソース領域不純物層上に形成されたソース電極と、該ソース領域不純物層の下側、及び外側に、これを取り囲むように形成された第2導電形不純物層と、上記第2導電形不純物層の上記ソース領域不純物層の外側に形成された第2導電形高濃度不純物層と、該第2導電形高濃度不純物層上に形成され、これとオーミックコンタクトをとる第2導電形層用電極とを備え、上記ソース電極と、上記第2導電形層用電極とは、ともに接地されていることを特徴とする電界効果トランジスタ。
IPC (4):
H01L 21/338 ,  H01L 29/812 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 29/62
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開平4-005833
  • 特開平4-368134
  • 特開昭61-267369

Return to Previous Page