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J-GLOBAL ID：200903091148188433

ストラクチャ付セラミック部材のテスト方法

Inventor： ウルリッヒ バースト ,  カール ケンプター ,  トーマス シューレンベルク
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 矢野 敏雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995139577
Publication number (International publication number)：1996043376
Application date： Jun. 06, 1995
Publication date： Feb. 16, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 セラミック部材の中に作動に特有の検査応力を形成させる、簡単に実施可能で、限界値を上回わるとき裂長さを有する部材と同様に、損傷のある部材を確実に選別除去可能なセラミック部材のテスト法を提供する。【構成】 過負荷条件の下でストラクチャ付セラミックをテストするために、部材上に熱ビーム照射により、所望の検査応力すなわち過負荷を生ぜしめる前もって算出された温度分布を形成する。局所-および時間分解能を有する温度センサを用いて温度分布が測定され、所望の、すなわち算出された温度分布と比較され、ビーム照射の持続時間および/または局所を変化することにより、所望の温度分布が形成されるまで、調整される。

Claim (excerpt)：

熱により生ぜしめられる検査応力を形成することによりストラクチャ付セラミック部材をテストする方法において、部材を所定の領域(5)においてビーム照射により加熱し、部材の温度分布を局所分解性の温度センサ(T)を用いて求め、部材の測定された温度分布を、算出された所望の温度分布と比較し、ビーム照射の持続時間および/または局所位置を、部材において所望の温度分布が形成されるまで調整し、音響放射分析により部材の損傷を検出することを特徴とする、ストラクチャ付セラミックのテスト方法。

IPC (3)：

G01N 33/38 ,  G01N 25/72 ,  G01N 29/00 501

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-231547
  
• 特開昭63-058156
  
• 特開平2-231547
  
• 特開昭63-058156