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J-GLOBAL ID：200903091165529791

凹凸欠点検査方法

Inventor： 榊原 正史 ,  藏満 愼治
Applicant, Patent owner： 株式会社イナックス
Agent (1)： 吉田 和夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993034799
Publication number (International publication number)：1994229929
Application date： Jan. 30, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：

【要約】【目的】 タイル表面の凹欠点,凸欠点を正確且つ自動的に判別できるような検査方法を提供することを目的とする。【構成】 検査対象物であるタイル10の表面に対して斜め方向から光照射するとともに、タイル10の上方に配置したCCDカメラにて画像を取り込んだ上、画像処理にてその輝度が平均輝度よりも一定以上高い輝度の明部と一定以上低い輝度の暗部とを2値化反転処理,2値化正転処理により何れも黒い塊(ラベル)として取り出す。そしてそれら明部と暗部との各位値及び位置関係を求め、それら明部と暗部とが対の関係で予め設定した所定距離範囲内の近傍位置に位置していることを以て明部,暗部の発生個所が凹凸欠点であると判定する。また明部,暗部の位置関係に基づいて凹欠点と凸欠点とを識別する。

Claim (excerpt)：

検査対象物の表面に対して斜め方向から光照射するとともに該検査対象物の上方に配置した画像センサにて反射光を受光し、画像処理にてその輝度が平均輝度よりも一定以上高い輝度の明部と一定以上低い輝度の暗部とを検出するとともにそれら明部と暗部との各位値及び位置関係を求め、それら明部と暗部とが対の関係で予め設定した所定距離範囲内の近傍位置に位置していることをもって明部,暗部の発生個所が凹凸欠点であると判定することを特徴とする凹凸欠点検査方法。

IPC (5)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/84 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/64