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J-GLOBAL ID：200903091190717748

画像クラスタリング装置

Inventor： 栄藤 稔
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992294837
Publication number (International publication number)：1994150000
Application date： Nov. 04, 1992
Publication date： May. 31, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 画素の標本ベクトルが撮像されている物体の統計的性質を表すよう、クラス平均とクラス内共分散を求め、かつ高速安定に画像のクラスタリングを行なう。【構成】 画像を記憶するフレームメモリ102と、ランダムに画素の値を読み出して、画素の特徴値と対応する水平垂直位置の結合を含む標本ベクトルとする読み出し手段103と、平均ベクトルと共分散行列の組をクラスデータとして複数保持するメモリと、標本ベクトルと、複数のクラスデータに対する尤度を標本ベクトルと平均ベクトルとの残差を共分散行列で正規化した距離と共分散行列の大きさの加算とした標本クラス間距離として演算する尤度演算手段115と、クラスデータの組合せの中で標本クラス間距離が最小となる組を選択する最尤クラス選択手段と、そのクラスデータについて、構成する平均ベクトルと共分散行列を、標本クラス間距離が小さくなる方向に、差ベクトルにより逐次変更するクラスデータ変更手段を有する。

Claim (excerpt)：

(a)符号化された画素から構成される画像を記憶するフレームメモリと、(b)前記フレームメモリから画像上の水平位置、垂直位置についてランダムに画素の値を読み出して、画素の特徴値とこれに対応する水平垂直位置の結合を含む標本ベクトルとする読み出し手段と、(c)前記標本ベクトルの平均ベクトルと共分散行列の組をクラスデータとして複数保持するメモリと、(d)前記標本ベクトルと、予め保持された前記複数のクラスデータに対する尤度を前記標本ベクトルと平均ベクトルとの残差を共分散行列で正規化した距離と共分散行列の大きさの加算とした標本クラス間距離として演算する尤度演算手段と、(e)前記クラスデータの組合せの中で前記標本クラス間距離が最小となる組を選択する最尤クラス選択手段と、(f)前記標本クラス間距離が最小となるクラスデータについて、前記クラスデータを構成する平均ベクトルと共分散行列を、前記標本クラス間距離が小さくなる方向に、標本ベクトルと平均ベクトルとの差ベクトルにより逐次変更するクラスデータ変更手段を有することを特徴とする画像クラスタリング装置。