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J-GLOBAL ID：200903091354285321
IC試験装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
渡辺 正康
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996152196
Publication number (International publication number)：1998002937
Application date： Jun. 13, 1996
Publication date： Jan. 06, 1998
Summary：
【要約】【課題】 多階調電圧を発生するICを高速試験することが可能なIC試験装置を実現する。【解決手段】 被試験対象からの被検査電圧を上限値電圧若しくは下限値電圧と比較して被試験対象の良否を試験するIC試験装置において、上限値電圧若しくは下限値電圧を発生させるD/A変換器と、被検査電圧と上限値電圧若しくは下限値電圧とを比較する比較器と、この比較器の出力を記憶する記憶回路と、被検査電圧の変化に同期してアドレスがインクリメントされ、予め記憶されている複数の上限値電圧若しくは下限値電圧をD/A変換器に順次設定する比較電圧値記憶回路とを設ける。
Claim (excerpt)：
被試験対象からの被検査電圧を上限値電圧若しくは下限値電圧と比較して前記被試験対象の良否を試験するIC試験装置において、前記上限値電圧若しくは下限値電圧を発生させるD/A変換器と、前記被検査電圧と前記上限値電圧若しくは下限値電圧とを比較する比較器と、この比較器の出力を記憶する記憶回路と、前記被検査電圧の変化に同期してアドレスがインクリメントされ、予め記憶されている複数の前記上限値電圧若しくは下限値電圧を前記D/A変換器に順次設定する比較電圧値記憶回路とを備えたことを特徴とするIC試験装置。
FI (2)：
G01R 31/28 D
, G01R 31/28 H
