診断に利用し得る3次元超音波イメ-ジデ-タセットの把握方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：浅野幸久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996102064
Publication number (International publication number)：1996308834
Application date： Apr. 02, 1996
Publication date： Nov. 26, 1996
Summary：

【要約】【課題】超音波携行部の自由に操作し得るガイドによって、検査すべき全容積又は全空間の断層撮影による把握を3次元デ-タセットにより可能にすることである。【解決手段】超音波装置により診断に利用し得る3次元イメ-ジデ-タセットを創出するための方法もしくは装置であって、多数の超音波イメ-ジのシ-ケンスを得るための超音波ヘッドを、検査すべき容積にわたり自由に案内する。その時の画面の位置デ-タと方向デ-タを決めるため電磁センサ-システムが備えられ、そのレシ-バは超音波ヘッドに接続される。デ-タの獲得において超音波イメ-ジは先ず位置デ-タ及び方向デ-タを備えた生のデ-タとしてイメ-ジ処理装置に取り出される。次いで生のデ-タは3次元デ-タセットに変換される。該デ-タセットは検査すべき容積を把握し、その全てのイメ-ジデ-タ又はイメ-ジ値が一般座標、特に直角座標に関連する。

Claim (excerpt)：

診断に利用し得る3次元イメ-ジデ-タセット(19)を発生するため次の3つを用いて、即ち検査すべき容積から多数の超音波イメ-ジのシ-ケンスを得るため自由に案内される超音波ヘッド(7)を備えた超音波装置(6)を用いて、該超音波装置(6)に接続され且つ発生した超音波イメ-ジのシ-ケンスが供給されるイメ-ジ処理システム(1)を用いて、及び超音波ヘッド(7)の位置と方向、そして生じた超音波イメ-ジの画面の空間的な位置を3つの並進自由度及び回転自由度に関し決定し、それによって後記センサ-システムの位置デ-タと方向デ-タがイメ-ジ処理システム(1)に伝達され、且つ超音波イメ-ジのイメ-ジデ-タ及び前記位置及び方向のデ-タから、検査された容積を断層撮影的に把握する3次元デ-タセット(19)を発生する位置センサ-システム(8)を用いて、診断に利用し得る3次元イメ-ジデ-タセット(19)を発生する方法において、検査すべき容積の3次元の断層撮影イメ-ジ把握のためセンサ-システム(8)として電磁システムが利用され、そのレシ-バ(10)は超音波ヘッド(7)に又はこのヘッド(7)に固定された保持器(17)に備えられ、超音波イメ-ジは先ずイメ-ジ処理システム(1)中でデ-タ獲得を形成する相において生のデ-タとして位置及び方向のデ-タを含むイメ-ジヘッダ-と共に取り出され、及びイメ-ジ処理システム(1)は生のデ-タもしくは生のデ-タセット(18)を全てのイメ-ジデ-タ又はイメ-ジ値(20)が一般座標、特に直角座標に関連する3次元デ-タセット(19)に変換することを特徴とする、診断に利用し得る3次元超音波イメ-ジデ-タセットの把握方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開平4-332544
特表平7-500506
特表平3-501453

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