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J-GLOBAL ID:200903091449598734
顕微マイクロ分光装置とその方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
西澤 利夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992044941
Publication number (International publication number):1995113748
Application date: Mar. 02, 1992
Publication date: May. 02, 1995
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】 微粒子の操作の基礎となる特性把握のための方法を高精度に実現することのできる装置と方法を提供する。【構成】 トラップレーザーA1とともに励起パルスレーザーA2を備える。パルスレーザーにA2により微粒子表面および/またはその内部化学種を励起して発光させこれを分光測定する。
Claim (excerpt):
トラップレーザとともに励起パルスレーザを備えてなることを特徴する顕微分光装置。
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