Pat
J-GLOBAL ID：200903091517815641
材料試験機
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995212637
Publication number (International publication number)：1997043125
Application date： Jul. 27, 1995
Publication date： Feb. 14, 1997
Summary：
【要約】【課題】 制御パターンを定義可能に構成することにより、特殊な材料試験を容易に実施することができる材料試験機を提供する。【解決手段】 データ処理装置20は、制御部21と、制御メモリ22と、データメモリ23と、計算式メモリ24と、指示部25と、CRT26とから構成されている。制御メモリ22は、各種規格に基づく種々の制御パターンを予め記憶している制御パターン記憶部22aと、基本的な各種の制御命令を記憶している制御命令記憶部22bと、定義された新たな制御パターンを記憶する定義制御パターン記憶部22cとから構成される。指示部25により各種の制御命令を組み合わせて定義された定義制御パターンは定義制御パターン記憶部22cに記憶される。
Claim (excerpt)：
各種材料の引張試験や圧縮試験などの試験を行なう材料試験機であって、材料を取り付けられて引張や圧縮などの荷重をその材料に対して印加する負荷機構と、前記材料に印加されている荷重や前記材料の変位量を測定する測定手段と、各種試験方法に基づく前記負荷機構および前記測定手段の制御手順(制御パターン)を予め記憶する制御パターン記憶部と、前記負荷機構および前記測定手段の動作を制御する基本的な各種の制御命令を記憶する制御命令記憶部と、前記制御パターン記憶部に記憶されている制御パターンに、前記制御命令記憶部に記憶されている各種の制御命令を組み合わせたり、前記制御命令記憶部に記憶されている各種の制御命令を組み合わせて新たな制御パターン(定義制御パターン)を定義するための指示部と、前記指示部を介して定義された定義制御パターンを記憶する定義制御パターン記憶部と、前記制御パターン記憶部や前記定義制御パターン記憶部に記憶されている制御パターンに基づいて前記負荷機構および前記測定手段を制御する制御部と、を備えていることを特徴とする材料試験機。
IPC (2)：
FI (2)：
Return to Previous Page
