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J-GLOBAL ID：200903091619117884

測定装置

Inventor：
町田 正信

About 町田 正信


Applicant, Patent owner：
日置電機株式会社

About 日置電機株式会社


Agent (1)： 酒井 伸司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999241224
Publication number (International publication number)：2001066335
Application date： Aug. 27, 1999
Publication date： Mar. 16, 2001
Summary：
【要約】【課題】 より広帯域に亘る特性を短時間で測定可能な測定装置を提供することを主目的とする。【解決手段】 広帯域に亘る高周波測定信号を測定対象体に供給する信号生成部2と、測定対象体を含む所定経路を介して入力した高周波測定信号に基づいて測定対象体についての広帯域周波数に対する特性を測定する測定手段とを備えた測定装置であって、信号生成部2は、主たる周波数成分が相互に異なる複数の広帯域信号S1 ,S2 を互いに合成することによって高周波測定信号SO を生成する。
Claim (excerpt)：
広帯域に亘る高周波測定信号を測定対象体に供給する信号生成部と、前記測定対象体を含む所定経路を介して入力した前記高周波測定信号に基づいて当該測定対象体についての広帯域周波数に対する特性を測定する測定手段とを備えた測定装置であって、前記信号生成部は、主たる周波数成分が相互に異なる複数の広帯域信号を互いに合成することによって前記高周波測定信号を生成することを特徴とする測定装置。
IPC (2)：
G01R 27/28 ,  G01R 23/16
FI (3)：
G01R 27/28 T ,  G01R 27/28 Z ,  G01R 23/16 Z
F-Term (13)：
2G028AA02 ,  2G028CG06 ,  2G028CG07 ,  2G028CG08 ,  2G028CG12 ,  2G028CG20 ,  2G028DH05 ,  2G028DH06 ,  2G028DH11 ,  2G028DH14 ,  2G028FK07 ,  2G028GL06 ,  2G028GL09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
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