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J-GLOBAL ID：200903091664747848

物質の分析方法

Inventor： 福岡隆夫 ,  中村圭太郎 ,  森康維
Applicant, Patent owner： 福岡 隆夫
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2001001854
Publication number (International publication number)：WO2002073164
Application date： Mar. 09, 2001
Publication date： Sep. 19, 2002
Summary：

群をなして存在し、表面増強効果を発揮する疎液性微粒子の分散相中に、該疎液性微粒子よりも分散性の高い微粒子を、該疎液性微粒子群の周囲を覆うに十分にたる濃度で共存させてなる分散複合体に、測定対象物質を含む流体を接触させ、光学的計測手段を用いて、測定対象物質を分析することを特徴とする物質の分析方法。微量物質あるいは低濃度物質の分析に有用である。

Claim (excerpt)：

群をなして存在し、表面増強効果を発揮する疎液性微粒子の分散相中に、該疎液性微粒子よりも分散性の高い微粒子を、該疎液性微粒子群の周囲を覆うに十分にたる濃度で共存させてなる分散複合体に、測定対象物質を含む流体を接触させ、光学的計測手段を用いて、測定対象物質を分析することを特徴とする物質の分析方法。

IPC (5)：

G01N21/65 ,  G01N21/35 ,  G01N33/536 ,  G01N33/552 ,  G01N33/553

FI (5)：

G01N21/65 ,  G01N21/35 Z ,  G01N33/536 F ,  G01N33/552 ,  G01N33/553