Pat
J-GLOBAL ID:200903091704488778
浸漬耐候試験機
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993187020
Publication number (International publication number):1995020035
Application date: Jun. 30, 1993
Publication date: Jan. 24, 1995
Summary:
【要約】【目的】 同一試験槽内で光照射と浸漬試験を行うための装置を、設置スペースに制約が少ない小型にしてかつ低価格にする。【構成】 試験槽2内に光源3が水平に配してあり、その光源3の周りを回転枠15が回転する。光源3の下方に浸漬バット24が配してある。又、この浸漬バット24は光源3の垂直下方位置にある試料14が、浸漬バット24内の溶液に完全に没する位置と浸漬バット24の上縁に接する平面より上方になる位置とに上下移動可能となっている。又、塩溶液タンク27と酸性雨溶液タンク28が試験槽2外にあり、これら溶液タンク内溶液は所定の温度に調節できるようになっている。又、これら溶液を浸漬バット24を経て循環させるために各溶液タンクに対応して配管が設けてある。溶液タンク内の溶液温度及び浸漬バットに供給する溶液の選択と共に試験時間及び任意の試験サイクルは制御盤44内の制御機構によって行われる。
Claim (excerpt):
試験槽内に水平に配した光源と、複数の試料を取り付け、光源の中心軸を回転軸心として回転する回転枠と、光源の下方に配してあり、回転枠に取り付けた試料中の一部を完全に没する深さの溶液(塩溶液、酸性雨溶液などの腐食性溶液)が貯溜できる浸漬バットと、溶液を蓄え所定温度に調節する1個又は複数個の溶液タンクと、溶液タンク内の溶液を浸漬バットを経て循環させるために溶液タンクに対応して設けた配管と、溶液タンク内の溶液温度及び浸漬バットに供給する溶液の選択と共に試験時間及び任意の試験サイクルを自動的に制御するための制御機構とからなることを特徴とする浸漬耐候試験機。
Patent cited by the Patent:
Return to Previous Page