Pat
J-GLOBAL ID:200903091718357668
表面選択的非線形光学技法を使用してプローブ-ターゲット相互作用を検出する方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
平木 祐輔
, 藤田 節
, 石井 貞次
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002546760
Publication number (International publication number):2004521323
Application date: Jul. 17, 2001
Publication date: Jul. 15, 2004
Summary:
第二高調波発生、和周波数発生などの表面選択的非線形光学技法を使用して、表面に付着したプローブと標識されたターゲットとの間の反応を検出し、または表面の画像化を実行する。表面選択的光学技法によって、サンプル・バルク中に存在するターゲット成分は無視して、界面の近くのターゲット成分だけを検出することができる。さらに、表面からの非線形光の方向が明確に規定された方向に散乱し、そのため、表面から離れた距離にある検出器への非線形光の入射を、表面の特定の既知の位置に容易にマップすることができる。
Claim (excerpt):
付着したプローブと標識されたターゲットとの間の界面での相互作用を測定するための方法であって、前記付着したプローブと前記標識されたターゲットとの間の前記界面での前記相互作用の影響を、表面選択的非線形光学技法を使用して測定することを含む方法。
IPC (9):
G01N21/63
, C12M1/00
, C12M1/34
, C12Q1/68
, G01N21/64
, G01N33/15
, G01N33/50
, G01N33/53
, G01N37/00
FI (10):
G01N21/63 Z
, C12M1/00 A
, C12M1/34 Z
, C12Q1/68 A
, G01N21/64 G
, G01N33/15 Z
, G01N33/50 Z
, G01N33/53 D
, G01N33/53 M
, G01N37/00 102
F-Term (58):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA01
, 2G043DA05
, 2G043DA08
, 2G043EA13
, 2G043EA15
, 2G043GA07
, 2G043GB07
, 2G043GB19
, 2G043HA03
, 2G043HA05
, 2G043HA07
, 2G043HA15
, 2G043JA01
, 2G043JA02
, 2G043JA03
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G043NA05
, 2G043NA06
, 2G045AA34
, 2G045AA35
, 2G045DA12
, 2G045DA13
, 2G045DA14
, 2G045DA36
, 2G045FA11
, 2G045GC11
, 2G045JA01
, 4B029AA07
, 4B029AA21
, 4B029AA23
, 4B029BB01
, 4B029BB15
, 4B029BB20
, 4B029CC01
, 4B029CC02
, 4B029CC03
, 4B029CC08
, 4B029FA15
, 4B063QA20
, 4B063QQ05
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QQ79
, 4B063QR32
, 4B063QR35
, 4B063QR38
, 4B063QR55
, 4B063QR84
, 4B063QS32
, 4B063QS34
, 4B063QS36
, 4B063QX02
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