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J-GLOBAL ID：200903091732928716

過硫酸イオン存在下の硫酸イオンの定量方法

Inventor： 君塚 健一 ,  梶原 庄一郎 ,  木暮 直毅 ,  敦賀 貴光
Applicant, Patent owner： 三菱瓦斯化学株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999194576
Publication number (International publication number)：2001021547
Application date： Jul. 08, 1999
Publication date： Jan. 26, 2001
Summary：

【要約】【課題】 過硫酸イオン/硫酸イオン共存下での硫酸イオンの定量方法を提供する。【解決手段】 過硫酸イオン/硫酸イオンを含む試料を滴定により過硫酸イオンを定量し、別途試料をアニオン交換処理した後、全カチオンを定量し、全カチオン量と過硫酸塩由来のカチオン量の差から硫酸イオンを定量する。

Claim (excerpt)：

過硫酸イオンおよび硫酸イオンを含む試料から硫酸イオンを定量する方法において、?@試料を滴定により過硫酸イオンを定量し、?A試料をアニオン交換処理した後、全カチオンを定量し、?B全カチオン量と過硫酸塩由来のカチオン量の差から硫酸イオンを定量することを特徴とする硫酸イオンの定量方法。

IPC (3)：

G01N 31/00 ,  G01N 27/26 361 ,  G01N 31/16

FI (4)：

G01N 31/00 P ,  G01N 31/00 Y ,  G01N 27/26 361 E ,  G01N 31/16 Z

F-Term (9)：

2G042BB13 ,  2G042CB03 ,  2G042DA02 ,  2G042EA20 ,  2G042FA01 ,  2G042FA02 ,  2G042FA12 ,  2G042FB03 ,  2G042GA05