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J-GLOBAL ID：200903091762937558

問診判定方法及び問診判定システム

Inventor： 岡本 晃次
Applicant, Patent owner： 株式会社アイピー・コーポレーション
Agent (1)： 鹿嶋 英實
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002040008
Publication number (International publication number)：2003242248
Application date： Feb. 18, 2002
Publication date： Aug. 29, 2003
Summary：

【要約】【目的】 少ない問診項目で、ユーザの望む対象の状態を精度よく簡単に診断することができる問診判定方法及び問診判定システムを提供する。【解決手段】 ユーザが判定を要求する対象を選択可能にユーザ端末に表示し、選択された対象に関してユーザに複数の問診項目をユーザ端末を介して提示し、ユーザ端末を介して前記問診項目に対してユーザが回答してきた場合に、問診判定手段により所定のパラメータと推論処理によって前記問診項目に対する回答を分析してユーザが判定を要求する対象の状態を判定し、その判定結果に基づきユーザが判定を要求した前記対象の状態をユーザ端末を介してユーザに提示する。ユーザは最低限の手間で、付加価値の高い判定情報が得られる。

Claim (excerpt)：

ユーザが判定を要求する対象を選択可能にユーザ端末に表示し、選択された対象に関してユーザに複数の問診項目をユーザ端末を介して提示し、ユーザ端末を介して前記問診項目に対してユーザが回答してきた場合に、問診判定手段により所定のパラメータと推論処理によって前記問診項目に対する回答を分析してユーザが判定を要求する対象の状態を判定し、その判定結果に基づきユーザが判定を要求した前記対象の状態をユーザ端末を介してユーザに提示するようにしたことを特徴とする問診判定方法。

IPC (4)：

G06F 17/60 124 ,  G06F 17/60 126 ,  G06F 17/60 326 ,  G06F 13/00 560

FI (4)：

G06F 17/60 124 ,  G06F 17/60 126 G ,  G06F 17/60 326 ,  G06F 13/00 560 C