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J-GLOBAL ID：200903091769216252

質量分析用標準物質

Inventor： 山下 和子 ,  岡本 昌彦
Applicant, Patent owner： 住友化学工業株式会社
Agent (3)： 久保山 隆 ,  中山 亨 ,  榎本 雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002377190
Publication number (International publication number)：2004205431
Application date： Dec. 26, 2002
Publication date： Jul. 22, 2004
Summary：

【課題】質量分析用標準物質に関し、特にエレクトロスプレーイオン化法を利用した質量分析法において、精密質量測定を行う際に好適な質量分析用標準物質の開発が求められていた。【解決手段】単糖又はオリゴ糖或いはこれらの混合物を主成分とすることを特徴とする質量分析用標準物質、単糖又はオリゴ糖或いはこれらの混合物を含むことを特徴とする質量分析用標準物質キット、及び、質量分析計を用いた質量測定において、試料由来のイオンピーク位置に相当する質量電荷比(m/z)の測定値を、請求項1記載の質量分析用標準物質由来のイオンピーク位置に相当する質量電荷比(m/z)の測定値と理論値との差異に基づき校正する工程を含むことを特徴とする質量電荷比の精密化方法等。【選択図】 なし

Claim (excerpt)：

単糖又はオリゴ糖或いはこれらの混合物を主成分とすることを特徴とする質量分析用標準物質。

IPC (1)：

G01N27/62

FI (2)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 D