Pat
J-GLOBAL ID:200903091796719002

FDTD演算装置、FDTD演算方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004331127
Publication number (International publication number):2006139723
Application date: Nov. 15, 2004
Publication date: Jun. 01, 2006
Summary:
【課題】解析対象となる領域を格子状の複数のブロックによって分割し、この分割した各ブロックの各辺に電界、各ブロックの各面に磁界を割り当ててマクスウェルの方程式を解く演算を行うことにより、領域内における電界及び磁界の空間的及び時間的な変化を得るFDTD演算装置において、演算処理時間を短縮する。【解決手段】外部メモリ1から読み込んだデータをバッファメモリ2に記憶する。解析対象となる領域を構成する複数のブロックについてその配列の1つおきのブロックに対応するデータのうち、バッファメモリ2に既に記憶されており次の回の演算において用いるデータ以外のデータを読み込む。次の回の演算において用いるデータ以外のデータを読み込むようにしたので、外部メモリ1へのアクセス回数が少なくなり、演算時間を短縮できる。【選択図】 図15
Claim (excerpt):
解析対象となる領域を格子状の複数のブロックによって分割し、この分割した各ブロックの各辺に電界、前記各ブロックの各面に磁界を割り当ててマクスウェルの方程式を解く演算を行うことにより、前記領域内における電界及び磁界の空間的及び時間的な変化を得るためのFDTD演算装置であって、 外部メモリから読み込んだデータを記憶するバッファ記憶手段と、 前記解析対象となる領域を構成する複数のブロックについてその配列の1つおきのブロックに対応するデータのうち、前記バッファ記憶手段に既に記憶されており次の回の演算において用いるデータ以外のデータを読み込むデータ読み込み手段と、前記バッファ記憶手段に記憶されているデータを用いて前記演算を行う演算手段とを含むことを特徴とするFDTD演算装置。
IPC (2):
G06F 17/50 ,  G01R 29/08
FI (2):
G06F17/50 612H ,  G01R29/08 Z
F-Term (2):
5B046AA04 ,  5B046JA10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (2)

Return to Previous Page