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J-GLOBAL ID:200903091963647817
光障害を分析するための遺伝子発現
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
川口 義雄 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002300727
Publication number (International publication number):2003245097
Application date: Oct. 15, 2002
Publication date: Sep. 02, 2003
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】光傷害を検出する肌のパーソナルケア方法を提供する。【解決手段】既知の肌状態を有する皮膚サンプルの第1の遺伝子発現と既知の肌状態を有していない皮膚サンプルの第2の遺伝子発現をを測定する。複数の光傷害のマーカーを使用し、遺伝子の発現を比較・評価する。光傷害マーカーとしてのポリヌクレオチド配列に提供される。
Claim (excerpt):
光障害を検出するパーソナルケア方法であって、(a)配列番号51、配列番号52、配列番号53、配列番号54、配列番号55、配列番号56、配列番号57、配列番号58、配列番号59、配列番号60、配列番号61、配列番号62、配列番号63、配列番号64、配列番号65、配列番号66、配列番号67、配列番号68、および配列番号69からなる群から選択される1つまたは複数の配列から選択される、少なくとも1種の光障害のマーカーを使用するステップと、(b)該マーカー中の変化を検出して、光障害の存在を決定するステップを含む方法。
IPC (3):
C12Q 1/68 ZNA
, C12N 15/00
, C12N 15/09
FI (3):
C12Q 1/68 ZNA A
, C12N 15/00 A
, C12N 15/00
F-Term (14):
4B024AA11
, 4B024CA04
, 4B024CA12
, 4B024HA12
, 4B063QA19
, 4B063QA20
, 4B063QQ08
, 4B063QQ53
, 4B063QR08
, 4B063QR42
, 4B063QR56
, 4B063QS25
, 4B063QS34
, 4B063QX02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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米国特許第5,242,798号
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EP799897
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WO9743450
-
WO9815651
-
米国特許第5,695,937号
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Cited by examiner (1)
-
核酸の測定方法及びそのための試薬
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-192824
Applicant:株式会社資生堂
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
J. Immunol., 1995, Vol.154(9), p.4851-6
-
J. Invest. Dermatol., 2001, Vol.116(1), p.12-22
-
J. Exp. Med., 1990, Vol.172(6), p.1609-14
-
J. Invest. Dermatol., 1998, Vol.110(4), p.353-7
-
Experimental dermatology, 1997, Vol. 6(2), Abstract
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