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J-GLOBAL ID:200903091979830476

超音波診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 蔵合 正博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994201852
Publication number (International publication number):1996062196
Application date: Aug. 26, 1994
Publication date: Mar. 08, 1996
Summary:
【要約】【目的】 超音波探触子を構成する二次元配列振動子を用いて、表示の深度の距離や超音波ビームの偏向角によらずに分解能が高く、指向性のよいビーム形成を行なう。【構成】 超音波探触子1を構成するN×M個の二次元配列振動子のうち、その中央部のK×L個を送受信兼用振動子12とし、その周囲の残りを受信専用振動子11とし、送信は送受信兼用振動子12により行ない、受信は送受信兼用振動子12と受信専用振動子11、すなわち全部の振動子で行なうことにより、ビーム幅が細く、高い分解能が得られる。また、表示の深度が近距離の場合は送信を行なう振動子の数を減らし、超音波ビームの偏向角が大きい場合は、送信を行なう振動子の数を偏向方向に多くする。
Claim (excerpt):
超音波探触子を構成するN×M個の二次元配列振動子のうち、その中央部のK×L個(K<N、L<M)を送受信兼用とし、残りの部分を受信専用とした超音波診断装置。
IPC (3):
G01N 29/24 502 ,  G01S 7/523 ,  H04R 17/00 332
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平1-164354
  • 特開平2-082952
  • 特開昭62-121352
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