Pat
J-GLOBAL ID:200903092118681689
良否判定装置、良否判定プログラムおよび良否判定方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (2):
横井 俊之
, 岩上 渉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002242544
Publication number (International publication number):2004085216
Application date: Aug. 22, 2002
Publication date: Mar. 18, 2004
Summary:
【課題】判別分析を利用して変数Z=0での閾値判別を行ったとしても人間の目視や実際の運用によってノウハウを蓄積しなければ実用に堪えなかった。【解決手段】良否判定要因となる複数のパラメータとその良否判定結果とを用いて判別関数を算出する。判別関数においては良カテゴリーと否カテゴリーとについてのヒストグラムを生成し、各カテゴリーにおける標準偏差に基づいて意図通りの流出率および見過ぎ率になるように閾値を決定する。この閾値に基づいて良否判定対象の良否を判定することによって、流出率や見過ぎ率を意図通りに制御することができ、ノウハウの蓄積によらないで高性能な良否判定を実現することができる。【選択図】 図20
Claim (excerpt):
良否判定要因となる複数のパラメータ情報とその良否判定結果情報とから良カテゴリーと否カテゴリーとの度数分布を分離させる変数を与える判別関数を算出する判別関数算出手段と、
上記良カテゴリーと否カテゴリーとの少なくとも一方について上記変数に対する度数平均とその分布の広がりを示す分布指標とを算出する統計指標算出手段と、
上記少なくとも一方のカテゴリーにおいて特定の分布確率となる上記変数値を上記度数平均と分布指標とから算出して良否判定の閾値とする閾値決定手段と、
良否判定対象について上記複数のパラメータ情報を取得するパラメータ情報取得手段と、
同パラメータ情報を上記判別関数に代入して得られる上記変数の値と上記閾値とを比較することによって良否判定を行う良否判定手段とを備えることを特徴とする良否判定装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N21/956 B
, H05K13/08 D
F-Term (17):
2G051AA61
, 2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051BA10
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CA11
, 2G051CB01
, 2G051CB02
, 2G051DA07
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051EC07
, 2G051FA10
Return to Previous Page