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J-GLOBAL ID：200903092141629244

赤外光学部品及び測定装置

Inventor： 佐藤 周一 ,  角谷 均 ,  川手 克之 ,  加藤 寿郎
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 和田 昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993249782
Publication number (International publication number)：1994214102
Application date： Sep. 10, 1993
Publication date： Aug. 05, 1994
Summary：

【要約】【目的】 合成ダイヤモンドを材料として、環境の悪い場所、構造物自体、あるいは衣類等に付着した試料を測定する場合に、測定物に接触して押し当てるのみでATR分光分析が可能となるプリズムや、耐用回数の高い赤外顕微装置用試料板等の赤外光学部品を提供することと、前記プリズムを用いた測定装置を提供する。【構成】 結晶中に含有される窒素量が3ppm以下かつ、硼素量が3ppm以下である合成ダイヤモンドを用いた全反射(ATR)プリズム14と、このプリズム14と共に、光学用ミラー12,17、レンズ13,16又はファイバーを用いることにより、ホルダー等を用いることなく直接試料15に押し当てることにより全反射(ATR)分光分析を行なう測定装置。

Claim (excerpt)：

結晶中に含有される窒素量が3ppm以下かつ、硼素量が3ppm以下である合成ダイヤモンドを用いた全反射(ATR)プリズムからなることを特徴とする赤外光学部品。

IPC (3)：

G02B 5/00 ,  G01N 21/27 ,  G02B 5/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-171342
  
• 特開昭63-171342