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J-GLOBAL ID：200903092149059102
方形横断CT検出方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岡部 正夫 (外11名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997171874
Publication number (International publication number)：1998082747
Application date： Jun. 27, 1997
Publication date： Mar. 31, 1998
Summary：
【要約】【課題】 本発明の目的は、比較的高速(すなわち、250個乃至300個あるいはそれ以上)でバッグを走査するための改善された荷物スキャナを提供することである。【解決手段】 (a)X線源と、(b)二次元アレイの検知器を含んでいて、走査の間に、X線源からX線を受け取るための検知装置と、(c)X線源及び検知装置を回転軸線の周囲で予め選択された回転速度で回転させるための回転手段と、(d)走査すべき複数の対象物を、所定の処理量で、X線源と検知装置との間に順次搬送するための搬送手段とを備えており、(e)所定の処理量は、予め選択された回転速度、及び回転軸線の方向における二次元アレイの検知器の寸法の関数であって、これにより各々の対象物がアセンブリによってほぼ完全に走査される。
Claim (excerpt)：
複数の別個の対象物を所定の処理量で順次走査するための走査アセンブリであって、(a)X線源と、(b)二次元アレイの検知器を含んでいて、走査の間に、前記X線源からX線を受け取るための検知装置と、(c)該X線源及び検知装置を回転軸線の周囲で予め選択された回転速度で回転させるための回転手段と、(d)走査すべき該複数の対象物を、前記所定の処理量で、前記X線源と前記検知装置との間に順次搬送するための搬送手段とを備えており、(e)前記所定の処理量は、該予め選択された回転速度、及び、前記回転軸線の方向における該二次元アレイの検知器の寸法の関数であって、これにより、各々の対象物が前記アセンブリによってほぼ完全に走査されることを特徴とする走査アセンブリ。
IPC (3)：
G01N 23/04
, G01T 1/29
, G01V 5/00
G01N 23/04
, G01T 1/29 Z
, G01V 5/00 A
