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J-GLOBAL ID：200903092153795344

質量分析用試料調製プレート

Inventor： フインチ,ジエフリー・ダブリユ ,  ゲブラー,ジヨン・シー ,  バスケス,サンテイアゴ
Applicant, Patent owner： ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド
Agent (5)： 川口 義雄 ,  小野 誠 ,  金山 賢教 ,  大崎 勝真 ,  坪倉 道明
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006503458
Publication number (International publication number)：2006517671
Application date： Feb. 10, 2004
Publication date： Jul. 27, 2006
Summary：

モノリシック基板20と複数のウェル構造12をもち、ウェルが親水性中央領域18と疎水性周囲領域16を備える質量分析計用試料調製プレート。

Claim (excerpt)：

プラットホームを備え、前記プラットホームは基板と1つまたは複数のウェルをもち、各ウェルは親水性中央領域と周囲の疎水性領域をもつ質量分析用試料表面。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/64

FI (3)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 F ,  G01N27/64 B

F-Term (6)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA01 ,  2G041JA06 ,  2G041JA08 ,  2G041JA10